Добавлена новая статья “HOW TO ASSURE SAFETY IN LARGE-SCALE MANUFACTURING OF NANOPARTICLE OF THE BIO-MEDICAL USE ”

Nanoparticles provide great advantages but also great risks. Risks associating with nanoparticles are the problem of all technologies, but they increase in many times in nanotechnologies. Continue reading

Posted in Публикации | Comments Off

Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

На официальном портале IOP: Conference Series (Institute Of Physics) опубликована статья С.К. Максимова и К.С. Максимова, посвященная комплексному решению проблемы структурно-морфологического контроля в массовом производстве наночастиц посредством растровой электронной микроскопии – “Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии”.

Posted in Публикации | Comments Off

О предлагаемом методе

В настоящее время ни один из выпускаемых растровых электронных микроскопов  не позволяет сколько-нибудь точно измерять размеры нанообъекта по направлениям, не лежащим в плоскости проекции. Но даже в плоскости проекций переход от размеров изображения к истинным размерам объекта – сложная и не всегда решаемая задача. Следовательно, ни один современный РЭМ не пригоден для контроля в нанообласти, где свойства зависят от размеров объекта по направлениям и огранки (габитуса). Именно на решение задачи определения истинных размеров объекта по направлениям и его габитуса направлено предлагаемое решение. Это первое физически реальное предложение в мировой практике, что подтверждено заключениями экспертов.


Posted in Новости сайта | Comments Off

Решение проблемы


Создан раздел, посвященный решению проблемы выходного контроля в нанотехнологиях с использованием методов растровой электронной микроскопии (SEM). Приведено научное обоснование предлагаемого решения, описаны основные принципы подхода, рассморены возможные технологические риски.

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off

Обновлен раздел Публикации

Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и размеров нанообъектов по РЭМ изображениям, полученным при разных сходимостях электронного зонда.


Добавлен материал «Принципы стандарта безопасности и производственного контроля в технологиях наноразмерных частиц», опубликован в издании Журнал Нанотехника № 3(19), 2009, С. 5 – 12. Рассмотрен комплекс экологических проблем, связанных с наночастицами и их производством. Их решение требует принятия стандарта безопасности и технических регламентов на основе триединой характеристики: размер-структура-огранка.


Добавлен материал “Принципы контроля наноматериалов для разработки стандартов безопасности на примере выявления закономерностей наноструктурирования в системах CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x, опубликован в Письма в ЖТФ. 2009 Т. 35, № 5, С. 58 – 64. Сформулированы общие принципы экологического контроля наноматериалов и на основе закономерностей наноструктурирования в CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x, указана специфика этого контроля для материалов, являющихся растворами.


Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off

От создателей сайта

Задача измерений в наноиндустрии – ключевая в данный момент. Решением этой задачи занимаются множество научных коллективов по всему миру. На сегодняшний момент не предложено сколь-нибудь адекватной идеи решения задачи характеризации больших массивов наноразмерных объектов.

Решением проблемы измерений в наноиндустрии занимается множество групп специалистов. Разрозненность и отсутствие адекватной идеи ведет к потере времени и тормозит развитие в данном направлении.

Нами предложена идея, принципиально решающая данную задачу. Произведено теоретическое обоснование используемого подхода, начинается переход к практической части работ.

Работы, которые ведутся нашей командой, доказывают, что практическое решение проблемы измерений существует.

Подробнее


Posted in Новости сайта | Comments Off