Памяти Сергея Кирилловича Максимова

Источник: Известия высших учебных заведений, том 20, №3

5 мая 2015 г. ушел из жизни известный ученый, доктор физико-матема-тических наук, профессор Максимов Сергей Кириллович – главный научный сотрудник лаборатории электронной микроскопии Национального исследовательского университета «МИЭТ». Сергей Кириллович родился 11 января 1936 г. в городе Магнитогорске Челябинской области. В 1963 г. окончил Московский институт стали и сплавов. В 1963-1965 гг. там же обучался в очной аспирантуре, в 1965 г. защитил кандидатскую диссертацию. В 1965-1968 гг. работал ведущим конструктором Всесоюзного научно-исследовательского института электромеханики. С 1968 г. по 1976 г. С.К. Максимов – старший научный сотрудник НИИ физических проблем (г. Зеленоград). Под его руководством развивалось направление просвечивающей электронной микроскопии и был создан парк современных электронных микроскопов. На кафедру общей физики МИЭТ С.К. Максимов пришел в 1976 г. старшим научным сотрудником, с 1979 г. по 1987 г. – доцент кафедры. По его инициативе была организована группа электронной микроскопии, где проводились исследования по изучению структуры полупроводниковых материалов и гетерокомпозиций, по созданию и развитию методов идентификации дефектов и моделирования электронно-микроскопических изображений. В группе появилось направление, связанное с рентгеноструктурным анализом материалов. Под руководством С.К. Максимова выполнено большое число научно-исследовательских работ, в ведущих отечественных и зарубежных научных журналах в соавторстве с ним опубликованы статьи, в том числе «Явление автомодуляции состава эпитаксиальных пленок в процессе кристаллизации из жидкой фазы» (ФТТ, 1982), «Динамические изменения фаз электронных волн на выходе рассеивающего кристалла» (Известия АН СССР, 1983), «The nature of defects of crystalline structure in gaas heavily doped with Te» (Physica Status Solidi. A, 1976), «Formation of defects in the process of ion implantation into A3B5» (Radiation Effects, 1982), «Comparison of split dislocation images obtained by the weak-beam method and lattice-resolution techniques » (Philosophical Magazine A, 1987). Вышедшее в 1976 г. в соавторстве с С.К. Максимовым справочное руко-водство «Электронно-микроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки» стало настольной книгой специалистов в области электронной микроскопии. В результате работы группы на кафедре было подготовлено около 10 кандидатских диссертаций. Диссертацию на соискание ученой степени доктора физико-математических наук «Электронно-микроскопические исследования дефектов структуры в полупроводниковых материалах» С.К. Максимов защитил в 1984 г. В 1987 г. на кафедре общей физики была создана научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии, которую возглавил С.К. Максимов. Лаборатория была оснащена самым современным на тот момент электронно-микроскопическим оборудованием. Одним из новых направлений работы стали исследования материалов и структур методами растровой электронной микроскопии, в число изучаемых объектов вошли высокотемпературные сверхпроводники. С.К. Максимовым с сотрудниками и аспирантами лаборатории был выполнен ряд важных научных исследований, в том числе опубликованных в статьях: «Закономерности ПЭМ изображений с дилатационным контрастом и адекватность моделей неравновесного упорядочения в композициях A3B5» (Письма в ЖТФ, 1998), «Relationship between nonequilibrium atomic ordering and nonequilibrium automodulation in epitaxial GaAlAs layers» (Crystallography Reports, 1997) и др. С 1999 г. С.К. Максимов, главный научный сотрудник созданной им лаборатории, продолжает активно заниматься научно-исследовательской деятельностью и передавать свой опыт молодым сотрудникам, аспирантам и студентам лаборатории. В область его научных интересов вошли исследования процессов наноструктурирования и упорядочивания в нестехиометрических фторидах с применением электронографического анализа и электронной микроскопии, проблемы изучения наночастиц методами растровой электронной микроскопии и др. Полученные результаты были опубликованы в статьях «Механизм наноструктурирования Ca1-xLaXF2+X с решеткой на основе CaF2» (Неорганические материалы, 2007), «Проблема характеризации структуры нанообъектов: несовместные рефлексы и дифракционное осреднение» (Известия РАН, 2011), «A new approach to the habit determination of nano-objects by SEM» (Nanomaterials and Nanotechnology, 2013) и др. За годы своей деятельности в науке С.К. Максимов стал автором более 350 научных трудов, в том числе 15 изобретений. Его доклады представлялись на многих международных (Германия, Япония, США), всесоюзных и российских конференциях и научных семинарах. Под руководством С.К. Максимова защищено 18 кандидатских диссертаций, в коллективе, которым он руководил на протяжении многих лет, подготовлены 4 докторские диссертации. Сергей Кириллович пользовался большим уважением и авторитетом у коллег, преподавателей, сотрудников, аспирантов и студентов МИЭТ. Его заслуги высоко оценены научной общественностью и государством: он лауреат премии «За лучшую работу в области микроэлектроники» (1982 г.) и премии им. Шубникова (1986 г.), награжден двумя медалями, ему присвоено звание «Почетный работник науки и техники РФ». Сергей Кириллович навсегда останется в нашей памяти примером талантливого ученого, преданного отечественной науке на протяжении всей своей жизни, внесшего неоценимый вклад в ее развитие.

Posted in Без рубрики | Leave a comment

Добавлена новая статья “HOW TO ASSURE SAFETY IN LARGE-SCALE MANUFACTURING OF NANOPARTICLE OF THE BIO-MEDICAL USE ”

Nanoparticles provide great advantages but also great risks. Risks associating with nanoparticles are the problem of all technologies, but they increase in many times in nanotechnologies. Continue reading

Posted in Публикации | Comments Off on Добавлена новая статья “HOW TO ASSURE SAFETY IN LARGE-SCALE MANUFACTURING OF NANOPARTICLE OF THE BIO-MEDICAL USE ”

Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

На официальном портале IOP: Conference Series (Institute Of Physics) опубликована статья С.К. Максимова и К.С. Максимова, посвященная комплексному решению проблемы структурно-морфологического контроля в массовом производстве наночастиц посредством растровой электронной микроскопии – “Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии”.

Posted in Публикации | Comments Off on Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

О предлагаемом методе

В настоящее время ни один из выпускаемых растровых электронных микроскопов  не позволяет сколько-нибудь точно измерять размеры нанообъекта по направлениям, не лежащим в плоскости проекции. Но даже в плоскости проекций переход от размеров изображения к истинным размерам объекта – сложная и не всегда решаемая задача. Следовательно, ни один современный РЭМ не пригоден для контроля в нанообласти, где свойства зависят от размеров объекта по направлениям и огранки (габитуса). Именно на решение задачи определения истинных размеров объекта по направлениям и его габитуса направлено предлагаемое решение. Это первое физически реальное предложение в мировой практике, что подтверждено заключениями экспертов.


Posted in Новости сайта | Comments Off on О предлагаемом методе

Решение проблемы


Создан раздел, посвященный решению проблемы выходного контроля в нанотехнологиях с использованием методов растровой электронной микроскопии (SEM). Приведено научное обоснование предлагаемого решения, описаны основные принципы подхода, рассморены возможные технологические риски.

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Решение проблемы

Обновлен раздел Публикации

Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и размеров нанообъектов по РЭМ изображениям, полученным при разных сходимостях электронного зонда.


Добавлен материал «Принципы стандарта безопасности и производственного контроля в технологиях наноразмерных частиц», опубликован в издании Журнал Нанотехника № 3(19), 2009, С. 5 – 12. Рассмотрен комплекс экологических проблем, связанных с наночастицами и их производством. Их решение требует принятия стандарта безопасности и технических регламентов на основе триединой характеристики: размер-структура-огранка.


Добавлен материал “Принципы контроля наноматериалов для разработки стандартов безопасности на примере выявления закономерностей наноструктурирования в системах CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x, опубликован в Письма в ЖТФ. 2009 Т. 35, № 5, С. 58 – 64. Сформулированы общие принципы экологического контроля наноматериалов и на основе закономерностей наноструктурирования в CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x, указана специфика этого контроля для материалов, являющихся растворами.


Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Обновлен раздел Публикации

От создателей сайта

Задача измерений в наноиндустрии – ключевая в данный момент. Решением этой задачи занимаются множество научных коллективов по всему миру. На сегодняшний момент не предложено сколь-нибудь адекватной идеи решения задачи характеризации больших массивов наноразмерных объектов.

Решением проблемы измерений в наноиндустрии занимается множество групп специалистов. Разрозненность и отсутствие адекватной идеи ведет к потере времени и тормозит развитие в данном направлении.

Нами предложена идея, принципиально решающая данную задачу. Произведено теоретическое обоснование используемого подхода, начинается переход к практической части работ.

Работы, которые ведутся нашей командой, доказывают, что практическое решение проблемы измерений существует.

Подробнее


Posted in Новости сайта | Comments Off on От создателей сайта