Author Archives: Admin

Памяти Сергея Кирилловича Максимова

Posted on 30 August 2020 by Admin

Источник: Известия высших учебных заведений, том 20, №3 5 мая 2015 г. ушел из жизни известный ученый, доктор физико-матема-тических наук, профессор Максимов Сергей Кириллович – главный научный сотрудник лаборатории электронной микроскопии Национального исследовательского университета «МИЭТ». Сергей Кириллович родился 11 января … Continue reading →

Posted in Без рубрики | Leave a comment

Добавлена новая статья “HOW TO ASSURE SAFETY IN LARGE-SCALE MANUFACTURING OF NANOPARTICLE OF THE BIO-MEDICAL USE ”

Posted on 11 August 2011 by Admin

Nanoparticles provide great advantages but also great risks. Risks associating with nanoparticles are the problem of all technologies, but they increase in many times in nanotechnologies.

Posted in Публикации | Comments Off on Добавлена новая статья “HOW TO ASSURE SAFETY IN LARGE-SCALE MANUFACTURING OF NANOPARTICLE OF THE BIO-MEDICAL USE ”

Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

Posted on 2 May 2011 by Admin

Комплексное решение проблемы структурно-морфологического контроля в массовом производстве наночастиц посредством растровой электронной микроскопии | A comprehensive solution of the problem of structural-morphological control in mass production of nanoparticles only by the use of advanced methods of scanning electron microscopy Continue reading →

Posted in Публикации | Comments Off on Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

О предлагаемом методе

Posted on 21 April 2011 by Admin

В настоящее время ни один из выпускаемых растровых электронных микроскопов  не позволяет сколько-нибудь точно измерять размеры нанообъекта по направлениям, не лежащим в плоскости проекции. Но даже в плоскости проекций переход от размеров изображения к истинным размерам объекта – сложная и не всегда решаемая задача. Следовательно, … Continue reading →

Posted in Новости сайта | Comments Off on О предлагаемом методе

Решение проблемы

Posted on 29 March 2011 by Admin

Создан раздел, посвященный решению проблемы выходного контроля в нанотехнологиях с использованием методов растровой электронной микроскопии (SEM). Приведено научное обоснование предлагаемого решения, описаны основные принципы подхода, рассморены возможные технологические риски.

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Решение проблемы

Обновлен раздел Публикации

Posted on 18 March 2011 by Admin

Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и … Continue reading →

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Обновлен раздел Публикации

От создателей сайта

Posted on 10 March 2011 by Admin

Задача измерений в наноиндустрии – ключевая в данный момент. Решением этой задачи занимаются множество научных коллективов по всему миру. На сегодняшний момент не предложено сколь-нибудь адекватной идеи решения задачи характеризации больших массивов наноразмерных объектов. Решением проблемы измерений в наноиндустрии занимается … Continue reading →

Posted in Новости сайта | Comments Off on От создателей сайта