Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и размеров нанообъектов по РЭМ изображениям, полученным при разных сходимостях электронного зонда.
Добавлен материал «Принципы стандарта безопасности и производственного контроля в технологиях наноразмерных частиц», опубликован в издании Журнал Нанотехника № 3(19), 2009, С. 5 – 12. Рассмотрен комплекс экологических проблем, связанных с наночастицами и их производством. Их решение требует принятия стандарта безопасности и технических регламентов на основе триединой характеристики: размер-структура-огранка.
Добавлен материал “Принципы контроля наноматериалов для разработки стандартов безопасности на примере выявления закономерностей наноструктурирования в системах CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x“, опубликован в Письма в ЖТФ. 2009 Т. 35, № 5, С. 58 – 64. Сформулированы общие принципы экологического контроля наноматериалов и на основе закономерностей наноструктурирования в CayLa1-yF3-y и LaxCa1-xF2+x, указана специфика этого контроля для материалов, являющихся растворами.
English