Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии

На официальном портале IOP: Conference Series (Institute Of Physics) опубликована статья С.К. Максимова и К.С. Максимова, посвященная комплексному решению проблемы структурно-морфологического контроля в массовом производстве наночастиц посредством растровой электронной микроскопии – “Проблема безопасности при массовом производстве наночастиц и ее решение с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии”.