Category Archives: Новости сайта

О предлагаемом методе

Posted on 21 April 2011 by Admin

В настоящее время ни один из выпускаемых растровых электронных микроскопов  не позволяет сколько-нибудь точно измерять размеры нанообъекта по направлениям, не лежащим в плоскости проекции. Но даже в плоскости проекций переход от размеров изображения к истинным размерам объекта – сложная и не всегда решаемая задача. Следовательно, … Continue reading →

Posted in Новости сайта | Comments Off on О предлагаемом методе

Решение проблемы

Posted on 29 March 2011 by Admin

Создан раздел, посвященный решению проблемы выходного контроля в нанотехнологиях с использованием методов растровой электронной микроскопии (SEM). Приведено научное обоснование предлагаемого решения, описаны основные принципы подхода, рассморены возможные технологические риски.

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Решение проблемы

Обновлен раздел Публикации

Posted on 18 March 2011 by Admin

Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и … Continue reading →

Posted in Новости сайта , Публикации | Comments Off on Обновлен раздел Публикации

От создателей сайта

Posted on 10 March 2011 by Admin

Задача измерений в наноиндустрии – ключевая в данный момент. Решением этой задачи занимаются множество научных коллективов по всему миру. На сегодняшний момент не предложено сколь-нибудь адекватной идеи решения задачи характеризации больших массивов наноразмерных объектов. Решением проблемы измерений в наноиндустрии занимается … Continue reading →

Posted in Новости сайта | Comments Off on От создателей сайта