Daily Archives: 21 April 2011

В настоящее время ни один из выпускаемых растровых электронных микроскопов  не позволяет сколько-нибудь точно измерять размеры нанообъекта по направлениям, не лежащим в плоскости проекции. Но даже в плоскости проекций переход от размеров изображения к истинным размерам объекта – сложная и не всегда решаемая задача. Следовательно, … Continue reading →