Daily Archives: 18 March 2011

Добавлен материал “Новый подход в метрологии в нанообласти”, опубликован в Письма в ЖТФ. 2010 Т. 36, № 20, С. 21 – 28. Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и … Continue reading →